預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱改設(shè)備是主要做沖擊試驗(yàn)的，就是一個(gè)箱子里面有兩個(gè)區(qū)域，一個(gè)給預(yù)冷一個(gè)給預(yù)熱，等到測(cè)試得時(shí)間就把預(yù)冷好溫度或預(yù)熱區(qū)的溫度放出來(lái)，他的是功能高溫轉(zhuǎn)至低溫之間可以在很快時(shí)間內(nèi)沖擊完成試驗(yàn)。

產(chǎn)品型號(hào)AP-CJ
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
更新時(shí)間2024-11-10
訪(fǎng) 問(wèn) 量2974

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冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

冷熱沖擊箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 冷熱沖擊測(cè)試箱冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī) led冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) *冷熱沖擊箱高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 極冷極熱設(shè)備熱沖擊試驗(yàn)箱三箱高低溫沖擊箱子產(chǎn)品三溫測(cè)試箱高低溫循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī) 沖擊試驗(yàn)機(jī) 低溫沖擊箱快速變溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱高溫沖擊箱定制

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詳細(xì)介紹

品牌	愛(ài)佩科技/A-PKJ	價(jià)格區(qū)間	5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,石油,建材/家具,電子/電池

預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱目前適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，太陽(yáng)能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，汽車(chē)燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。

制冷低溫區(qū)	溫度暴露范圍	0℃/-65℃
	預(yù)熱溫度下限	-75℃
	溫度波動(dòng)范圍	≤±0.5℃
	溫度降溫時(shí)間	-75℃≤60min
加熱高溫區(qū)	溫度暴露范圍	60℃~150℃
	預(yù)熱溫度上限	200℃
	溫度波動(dòng)范圍	≤±0.5℃
	溫度上升時(shí)間	室溫200℃≥45min
性能指標(biāo)	溫度測(cè)試范圍可選	A:-40℃～150℃ B:-40℃～150℃C:-65℃～150℃
	溫度均勻動(dòng)	高溫室及低溫室均≤±2℃
	樣品區(qū)承重	30kg	30kg	30kg
溫度運(yùn)行控制系統(tǒng)	主要控制器	//中國(guó)臺(tái)灣(可選擇）進(jìn)口LED數(shù)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦集成控制器
	精度范圍	設(shè)定浮動(dòng)度：溫度±0.2℃，指示精度：溫度±0.1℃，分辨率：0.01℃
	制冷系統(tǒng)	進(jìn)口半封閉水冷式壓縮機(jī)組或原裝“泰康”/全封閉風(fēng)冷壓縮制冷機(jī)組
	循環(huán)系統(tǒng)	耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間	從制冷低溫區(qū)到加熱高溫區(qū)或從加熱高溫區(qū)到制冷低溫區(qū)≤10S
溫度恢復(fù)時(shí)間	≤5min(冷熱溫度沖擊機(jī)\|高低溫溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)的恢復(fù)時(shí)間與暴露溫差、冷卻水溫、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān))

預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱本設(shè)備滿(mǎn)足：GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A 低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫；GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備。

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