三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是一種用于測(cè)試材料、零部件或成品在不同溫度變化條件下的性能和可靠性的設(shè)備。它通常由三個(gè)相互獨(dú)立的箱體組成：一個(gè)高溫箱、一個(gè)低溫箱和一個(gè)樣品轉(zhuǎn)移箱。試驗(yàn)時(shí)，樣品被放置在樣品轉(zhuǎn)移箱中，然后通過(guò)控制系統(tǒng)將其連續(xù)轉(zhuǎn)移到高溫箱和低溫箱之間進(jìn)行冷熱交替沖擊。這模擬了實(shí)際環(huán)境中由于溫度變化引起的熱應(yīng)力和熱沖擊情況，以評(píng)估材料或產(chǎn)品的耐熱性、耐寒性和穩(wěn)定性。
三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)設(shè)備是愛(ài)佩科技有限公司冷熱沖擊箱系統(tǒng)的主打款產(chǎn)品，本公司可以根據(jù)客戶的特殊要求定做，如溫度范圍，尺寸大小等。設(shè)備指標(biāo)參照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造。
主要適合用于電工電子電器機(jī)械等零組件、自動(dòng)化零部件、國(guó)防工業(yè)行業(yè)、航空航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學(xué)材料、五金塑料、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)冷、熱溫的快速反復(fù)抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時(shí)所出現(xiàn)的化學(xué)變化或者物理傷害，可確認(rèn)工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量，從精密的IC到重機(jī)械的組件，可作為工業(yè)行業(yè)眾多產(chǎn)品改進(jìn)品質(zhì)的依據(jù)或參考，以便考核產(chǎn)品的適應(yīng)性或?qū)y(cè)試產(chǎn)品的行為作出評(píng)價(jià)。是新產(chǎn)品研發(fā)、樣機(jī)實(shí)驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程的重要試驗(yàn)手段。眾多企業(yè)為它花費(fèi)1倍的投資換回1000倍或者更多的回報(bào)。相信愛(ài)佩也是相信自己。
三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)設(shè)備有以下特點(diǎn)：
一、本試驗(yàn)箱使用于LED、電子、光電、汽車配件、塑膠、薄膜、軍工、航空、玩具等行業(yè)，測(cè)試各種工業(yè)材料的成品或者半成品對(duì)高、低溫反復(fù)沖擊試驗(yàn)的適應(yīng)能力。
二、出于工業(yè)產(chǎn)品對(duì)于熱漲冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害用此試驗(yàn)箱能夠很好的做測(cè)試。
三、本高低溫沖擊試驗(yàn)箱分為高溫區(qū)(指高溫箱)、低溫區(qū)(指低溫箱)、測(cè)試區(qū)(指測(cè)試箱)三部分(指三箱式)，采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做高低溫沖擊測(cè)試。
四、本試驗(yàn)箱主要控制器采用進(jìn)口“OYO”雙回路高精度液晶顯示觸摸式溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏，可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)的程序曲線、運(yùn)行時(shí)間的累積、加熱器工作時(shí)的狀態(tài)，PID參數(shù)自整定功能等。控制程序的編制采用人機(jī)對(duì)話方式，僅需設(shè)定溫度，就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)行功能。控制系統(tǒng)具備完善的檢測(cè)裝置能自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。報(bào)警，配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。設(shè)定精度：溫度：0.1℃ 時(shí)間：Is用戶程序容量：10×99段。運(yùn)行方式：程序運(yùn)行，恒定運(yùn)行。獨(dú)立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時(shí)間累計(jì)計(jì)時(shí)器。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。 溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘。
五、高溫箱、低溫箱獨(dú)立控制，箱門互相獨(dú)立，除了可以做高低溫沖擊以外還可以做常溫沖擊，擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍(一箱三用)。
參照標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GJB150.3A-2009 軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
GJB367.2-1987 軍通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法
GB/T 2423.22-2002溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
技術(shù)參數(shù)及性能指標(biāo)
標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)和尺寸(也可按客戶要求訂制非標(biāo)準(zhǔn)尺寸)(單位:mm)：
型號(hào)AP-3CJ-50A 內(nèi)形尺寸:W×H×D 360×350×400mm 外形尺寸約：1650×1790×1440mm
型號(hào)AP-3CJ-80A 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×400×400mm 外形尺寸約：1790×1850×1440mm
型號(hào)AP-3CJ-100A 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×400×420mm 外形尺寸約：1800×1800×1500mm
型號(hào)AP-3CJ-150A 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×500×500mm 外形尺寸約：1800×1890×1540mm
型號(hào)AP-3CJ-250A 內(nèi)形尺寸:W×H×D 700×600×600mm 外形尺寸約：1900×2050×1650mm
pc塑料溫度沖擊的可選范圍
A：-40℃～150℃, B：-55℃～150℃,C：-65℃～150℃
產(chǎn)品型號(hào)
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